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A. Thust

1996–2022 年に発表

所属
Ernst Ruska Centreこのコーパスには著者の所属の国が記録されていないため、国・地域を表示していません。これらの機関に国が無いという意味ではありません。
ORCID
0000-0001-6416-7617
11
論文数
1,599
被引用数
11
h 指数
11
i10 指数

この数字には自己引用も含まれています。

年別の被引用数

被引用数

A. Thust の年別被引用数1996 年: 被引用 4 件1997 年: 被引用 3 件1998 年: 被引用 5 件2000 年: 被引用 1 件2001 年: 被引用 9 件2002 年: 被引用 5 件2003 年: 被引用 9 件2004 年: 被引用 15 件2005 年: 被引用 13 件2006 年: 被引用 4 件2007 年: 被引用 8 件2008 年: 被引用 11 件2009 年: 被引用 18 件2010 年: 被引用 3 件2011 年: 被引用 4 件2012 年: 被引用 8 件2013 年: 被引用 2 件2014 年: 被引用 7 件2015 年: 被引用 5 件2016 年: 被引用 3 件2017 年: 被引用 2 件2018 年: 被引用 5 件2019 年: 被引用 14 件2020 年: 被引用 17 件2021 年: 被引用 6 件2022 年: 被引用 18 件2023 年: 被引用 7 件2024 年: 被引用 1 件2025 年: 被引用 1 件1999 年は被引用が無いため表示していません

引用元

国・地域

このコーパスには引用元著者の国が記録されていないため、国・地域の内訳は集計していません。他の内訳はそのまま表示しています。

機関

分野

  • Biochemistry, Genetics and Molecular Biology56.3%
  • Materials Science21.4%
  • Physics and Astronomy11.1%
  • Engineering5.6%
  • Computer Science2.4%
  • Energy1.6%
  • その他1.6%

トピック

  • Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications32.7%
  • Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques27.8%
  • Advanced X-ray Imaging Techniques8.4%
  • Electronic and Structural Properties of Oxides6.1%
  • Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis4.9%
  • Force Microscopy Techniques and Applications3.9%
  • その他16.2%

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