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B.W. Johnson

1985–2002 年に発表

ORCID
0000-0003-2849-2126
16
論文数
1,593
被引用数
14
h 指数
14
i10 指数

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年別の被引用数

被引用数

B.W. Johnson の年別被引用数1988 年: 被引用 4 件1989 年: 被引用 3 件1990 年: 被引用 6 件1991 年: 被引用 8 件1992 年: 被引用 10 件1993 年: 被引用 16 件1994 年: 被引用 17 件1995 年: 被引用 15 件1996 年: 被引用 15 件1997 年: 被引用 21 件1998 年: 被引用 31 件1999 年: 被引用 38 件2000 年: 被引用 34 件2001 年: 被引用 38 件2002 年: 被引用 36 件2003 年: 被引用 51 件2004 年: 被引用 38 件2005 年: 被引用 41 件2006 年: 被引用 31 件2007 年: 被引用 36 件2008 年: 被引用 26 件2009 年: 被引用 25 件2010 年: 被引用 26 件2011 年: 被引用 26 件2012 年: 被引用 20 件2013 年: 被引用 22 件2014 年: 被引用 32 件2015 年: 被引用 28 件2016 年: 被引用 19 件2017 年: 被引用 23 件2018 年: 被引用 14 件2019 年: 被引用 15 件2020 年: 被引用 13 件2021 年: 被引用 16 件2022 年: 被引用 4 件2023 年: 被引用 3 件2024 年: 被引用 3 件2025 年: 被引用 2 件

引用元

国・地域

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機関

分野

  • Computer Science54.3%
  • Engineering41.2%
  • Decision Sciences1.5%
  • Physics and Astronomy0.8%
  • Business, Management and Accounting0.5%
  • Medicine0.5%
  • その他1.2%

トピック

  • Radiation Effects in Electronics19.1%
  • VLSI and Analog Circuit Testing12.5%
  • Software Reliability and Analysis Research11.2%
  • Distributed systems and fault tolerance9.9%
  • Embedded Systems Design Techniques6.8%
  • Reliability and Maintenance Optimization5.9%
  • その他34.6%

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