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Thilo Michel

1989–2023 年に発表

所属
Georgia Institute of Technologyこのコーパスには著者の所属の国が記録されていないため、国・地域を表示していません。これらの機関に国が無いという意味ではありません。
ORCID
0000-0002-2960-0611
20
論文数
1,898
被引用数
12
h 指数
13
i10 指数

この数字には自己引用も含まれています。

年別の被引用数

被引用数

Thilo Michel の年別被引用数1990 年: 被引用 1 件1991 年: 被引用 6 件1992 年: 被引用 5 件1993 年: 被引用 2 件1994 年: 被引用 6 件1995 年: 被引用 4 件1996 年: 被引用 1 件1997 年: 被引用 3 件1998 年: 被引用 4 件1999 年: 被引用 1 件2001 年: 被引用 4 件2002 年: 被引用 2 件2003 年: 被引用 3 件2004 年: 被引用 1 件2005 年: 被引用 3 件2006 年: 被引用 1 件2007 年: 被引用 1 件2008 年: 被引用 2 件2010 年: 被引用 2 件2012 年: 被引用 1 件2013 年: 被引用 1 件2014 年: 被引用 3 件2015 年: 被引用 1 件2016 年: 被引用 3 件2017 年: 被引用 2 件2018 年: 被引用 14 件2019 年: 被引用 20 件2020 年: 被引用 22 件2021 年: 被引用 17 件2022 年: 被引用 14 件2023 年: 被引用 8 件2024 年: 被引用 11 件2025 年: 被引用 2 件2000 年は被引用が無いため表示していません2009 年は被引用が無いため表示していません2011 年は被引用が無いため表示していません

引用元

国・地域

このコーパスには引用元著者の国が記録されていないため、国・地域の内訳は集計していません。他の内訳はそのまま表示しています。

機関

分野

  • Engineering52.7%
  • Physics and Astronomy38.7%
  • Medicine4%
  • Computer Science2.7%
  • Materials Science1.3%
  • Environmental Science0.7%

トピック

  • Perovskite Materials and Applications14.7%
  • Optical measurement and interference techniques12.7%
  • Surface Roughness and Optical Measurements11.7%
  • Luminescence Properties of Advanced Materials9.7%
  • Radiation Detection and Scintillator Technologies8%
  • Advanced X-ray Imaging Techniques7.7%
  • その他35.5%

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